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掃描電鏡

掃描電鏡

  • 規(guī)格:/樣
產(chǎn)品詳情
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的高精度觀察手段,它利用聚焦的高能電子束來掃描樣品,通過收集和分析光束與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的各種物理信息,如二次電子、背散射電子等,將這些信息轉(zhuǎn)換為圖像,從而實現(xiàn)對物質(zhì)微觀形貌的表征。
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